demo / wafer-defect-lab

晶圆缺陷地图实验室

把 Fab 里的 Bin Map 搬进浏览器:一键撒出随机、团簇、环形、划痕等缺陷模式,也可以拿鼠标直接在晶圆上画缺陷。所有空间统计与模式判定都在本地完成,不产生任何网络请求。

8 种缺陷模式 0 有效 Die  手绘笔刷  实时空间统计
· 点击/拖拽可绘缺陷 · 再次点击当前模式可换一版
18 模式 P 画笔 E 橡皮 C 清空 S 扫描 V 切换视图 共 25×25 网格,圆内约 500 颗 Die